MCM基板互连测试的单探针路径优化研究
摘耍：针对MCM 基板互连测试所采用的单探针技术，本文提出一种基于蚁群算法的单探针路径优化算法，通过设定合适的规则， 引导探针的移动，缩短探针移动的距离，达到减少测试时间提高MCM 生产效率的目的。从基于MCM 标准电路的仿真结果看，采用蚁群算法得到的探针测试路径长度远远优于其它算法所得到的。
关复词：MCM 基板；互连测试：单探针；蚁群算法
1 引言
目前多芯片组件(Multi—Chip Module，MCM)基板互连测试通常采用单探针或双探针法进行短路和断路故障测试。这种探针测试是在飞针测试床上进行的，测试的时间主要花费在探针的移动上，为了减少移动定位时间， 除了提高探针移动速度外，减小探针移动的总距离是一种有效的方法。对于MCM 基板，其表面焊区的布局及网络分布总存在一条使探针移动最短的路径。如何根据MCM 基板焊区和网络的分
布情况求解出探针运动的最短或较短路径是探针测试(飞针测试)技术的关键。本文将围绕单探针测试提出一种探针移动路径优化的新方法。已有学者采用传统求解货郎担问题(Traveling Salesman Problem，TSP)的算法来解决探针测试路径的优化问题Il 】，但这些算法的求解过程只限于小规模的模拟，通常采用的实验对象是几十个网络的电路，而MCM 的发展速度很快，高密度、大规模已经是MCM 发展的趋势。此外， 已有的探针测试路径优化算法在寻找路径的时候，主要是基于对局部优化的考虑而进行寻优工作的，这就使得算法在全局优化方面表现出一定的局限性，为了能够得到较优的探针测试路径，算法必须进行遍历方式的试探工作，以此来寻找较好的焊区序列，最终减少测试路径的长度，这就使得算法的运行时间会随着MCM 规模的增大急剧增加。基于对算法运行时间和生成路径长度的考虑，本文提出一种采用蚁群算法来解决探针测试路径优化问题的方法。
......
想了解全部内容，请下载附件查看
