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课程设计-数显式光照强度测量仪设计,共21页,9456字
摘 要
随着电子产品向智能化的不断发展,单片机的运用不断深入,此简易的数显式光照强度测量仪就是单片机在日常生活和生产的方便运用。在日常生产中,光照强度往往会影响产品的质量,尤其是对一些精密的仪器仪表,其影响不容忽视,因此,为保证产品质量,必须注意光照强度的影响。
本设计从经济实用的角度出发,选用单片机AT89C52以及ADC0809芯片,通过光敏电阻感受光照强度的变化,从而电阻变化,将电阻的变化转换为电压的变化,在A/D转换,将数字信号显示在LCD上,实用性强,操作简单,且数字信号显示易于观察。在日常生活和生产中通用性很强。是一个实用的设计发明。
关键词:单片机 数显式 实用性
目录
一、课程设计要求…………….…………4
1.1课程设计要求简要分析……….…4
二、设计原理简述.4
2.1 单片机AT89C52……………..…4
2.2 选择LCD显示器…………….…8
2.3 选择光敏电阻………………….10
2.4 选择芯片ADC0809………….…11
2.5 硬件总逻辑图及其说明………...13
三、控制程序设计13
3.1 控制程序设计思路说明………...13
3.2程序流程图14
3.3源程序……14
四、上机调试过程20
4.1硬件调试…20
4.2软件调试…20
4.1调试结果及问题的提出…………20
五、设计结果分析及问题讨论………….20
5.1程序设计结果及分析……………20
5.2问题讨论…21
六、心得体会...….21
七、参考文献(资料)…………………21
课程设计要求
设计一个简易的数显式光照强度测量仪,由光照强度产生的模拟电压信号转换为数字信号,然后转换为照度(单位是勒克斯)显示在LCD上;
校准照度测量器:在一定的光强度下,产生200数字量的电压,以此对应关系(照度—电压)将其它光强度转换为勒克斯值,显示在LCD上。
1.1课程设计要求简要分析
光照强度测量仪主要根据光敏电阻的特性制作的。光敏电阻值随受到的光照强度的变化而变化(光照强度越大,电阻值越小)。将光敏电阻接入电路中,不同光照强度导致光敏电阻值变化,于是光敏电阻上的电压发生变化,导致电路的输出电压也相应变化。根据电压-光照度函数关系,由电压计算得到光照强度值,然后以可视化界面形式输出(即LCD显示),以供用户查看结果。
其中光敏电阻的特性是光敏电阻随受到的光照强度的变化电阻值发生变化,光照强度越强电阻越小,在分压电路中获得电压越低。根据这一特性,结合光照强度和输出的模拟电压之间的关系,可以得到某一光强度下的对应的模拟电压。将模拟电压通过AD转化器转换为数字电压,以便于计算机处理。然后再将数字电压转换成光照度。
程序设计中用到的硬件是光敏电阻、ADC0809、AT89C52和LCD显示器。