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毕业论文 集成电路测试系统AST2000的研究和运用，共46页，12779字
摘 要
随着国内集成电路产业的快速发展，集成电路测试技术有了相应的提高。原先大中型的集成电路测试系统因其原理结构比较复杂,一般要进口国外知名公司的测试系统. 随着国内半导体行业的逐渐发展壮大,测试需求和测试成本之间发生了一些变化,并且国内一些知名公司逐渐积累相关的设计集成电路测试系统的经验,但因生产经验不足以及技术成本等问题,这些系统存在着一些问题。本文着重介绍了北京华峰测控技术有限公司自行研发的测试系统AST2000软硬件的设计理念和原理,对如何进行外部补偿以达到对集成电路测试的最佳效果等问题进行了研究。
关键词：集成电路，测试系统，设计原理，补偿

目 录
摘 要 1
ABSTRACT 2
目 录 3
第一章 绪论 5
1.1国内集成电路产业的发展现状 5
1.2集成电路测试技术概述 7
1.2.1国内集成电路测试技术的发展现状 7
1.2.2国内集成电路测试技术与国外同类产品的差距 8
1.2.3集成电路测试系统的分类 9
1.3国产化测试系统AST2000的简介 11
第二章 AST2000测试系统的构造 13
2.1 系统构成 13
2.1.1 系统总线接口卡 14
2.1.2 机械手/探针台接口卡 15
2.1.3 数字总线驱动模块 17
2.2 测试机内部的资源 18
2.2.1 双路电压电流源DVI 18
2.2.2 双路功率电压电流源PVI 20
2.2.3 精密电压表PVM 21
2.2.4 多路偏置电压源MVS 23
2.2.5 四路时间/频率测量单元TMU 24
2.2.6 用户卡控制单元 26
第三章 AST2000系统的运用 28
3.1 电源管理电路AP3842的概述 28
3.2 AP3842在AST2000上的运用 29
3.2.1用于测试AP3842产品的DUT BOARD的介绍 29
3.2.2 AST2000系统硬件资源的分配 31
3.2.3 测试参数及程序说明 32
第四章 展望与总结 42
4.1测试技术的发展方向及前景 42
4.2毕业设计的总结 43
参考文献 44
致 谢 45