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毕业设计论文 数字IC测试系统，共35页，13996字
本文介绍了为此项目研制了一种数字IC测试系统，它可以测试TTL74系列的数字集成电路，采用了硬件优化的设计方法，系统工作在最小状态。它主要由AT89C51、显示电路、键盘电路、测试插座等电路组成的。对数字集成电路芯片进行测试的基本方法是从输入端加上所需的激励信号，检测其相应的输出响应与预期的正确结果进行比较，由此来判断其是否存在故障。因此判断一个集成电路芯片是否存在故障，该芯片被检测出来的功能是否同设计规范一致来判断；能够准确、迅速测量TTL74/54系列20脚以下的数字集成电路的好坏， 自动识别不知名的集成块并显示其型号；体积小，重量轻，携带使用方便，显示清晰，面板上有电源开关、一个２０脚测试座、四个操作按钮外观简捷美观。非常适合科研、生产、维修及广大电子技术爱好者使用。
经过硬件与软件的设计，再通过调试，完成了本产品的设计。通过实际的应用，证明该系统达到了一定的技术要求和测试精度，性价比高、使用方便、结构简单、成本低，寿命长，有一定的市场价值。