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毕业论文-基于MCU的薄膜按键寿命测试系统，共38页，11836字
摘要
按键的寿命测试是一项重复性、机械性的工作，然而，按键的使用寿命是一项需要测试的指标。按键的寿命一般在几十万次到上百万次之间，由人工测试几乎是不可能的，需设计自动按键系统对其测试。
本按键寿命测试系统是一种测试按键使用寿命的设备，其基本工作原理是利用电磁铁的往复运动来模拟人手敲击键盘的动作。本设计主要实现自动按键，将采集到的按键次数等数据进行处理并实时的显示在液晶屏上，从而能直观的读出薄膜按键被按压的次数且最终测出使用寿命。整个系统主要由机械固定装置和P89LPC936单片机及其相关外围电路两大部分组成。机械固定装置用来对单片机及其外围电路、电磁铁及其驱动电路分别进行固定并使之在一个工作界面上，且确保电磁铁探头的中心点与被测试按键的中心点在同一条水平线上，同时底部采用滑轨支架和可移动的滑轨来灵活调节两部分的距离，方便对系统的测试、控制和操作。单片机结合按键扫描电路、液晶显示电路、蜂鸣报警电路、电磁铁驱动电路等子模块对采集到的按键信号进行处理、分析、显示，并用单片机内部EEPROM对数据进行保存记录，其中的错误处理方式在检测到错误次数达到一定值后会自动存储数据并断开系统来保护整个装置。本设计是机电结合的成功应用。
关键词：按键寿命；单片机；电磁铁

目 录
摘 要 I
Abstract II
第1章 绪 论 1
第2章 机电结构设计方案 2
2.1 自动按键方式的选择 2
2.2 机电结构设计 2
2.3 机电控制系统 3
第3章 机械固定装置设计 5
3.1 装配图的作用 5
3.2 固定单片机系统底座 5
3.3 可移动加固滑块 6
3.4 固定电磁铁底座 6
第4章 硬件系统功能电路分析 7
4.1 P89LPC936单片机概述 7
4.2 电磁铁驱动模块 8
4.2.1 达林顿管TIP127 8
4.2.2 光电耦合器TLP113 9
4.2.3 电磁铁驱动电路 9
4.3 按键扫描模块 10
4.3.1 按键抖动的成因及消除 10
4.3.2 按键扫描电路 11
4.4 液晶显示模块 11
4.4.1 驱动芯片HT1621 11
4.4.2 液晶驱动电路 13
第5章 系统整体工作原理 15
5.1 技术参数分析 15
5.2 系统运行原理 16
第6章 系统软件设计 17
6.1 编译语言及编译环境 17
6.1.1 汇编语言概述 17
6.1.2 C语言概述 17
6.1.3 编译环境概述 17
6.2 程序流程分析 18
6.2.1 系统总体流程框图 18
6.2.2 自适应处理流程框图 19
6.3 程序流程综述 20
6.3.1单片机初始化部分程序 20
6.3.2 按键扫描及自适应处理部分程序 20
6.3.3 HT1621驱动部分程序 22
6.3.4 液晶显示部分程序 24
6.3.5 辅助按键部分程序 24
6.3.6 错误处理部分程序 26
6.3.7 EEPROM读写部分程序 26
结 论 28
参考文献 29
附录1 系统总体电路图 30
附录2 系统实物图片 31
致 谢 32